Nanoindenter ambiental y de vacío

El nanoindenter NanoFlip mide la dureza, el módulo, el límite elástico, la rigidez y otras pruebas nanomecánicas con alta precisión, tanto en vacío como en condiciones ambientales. En el microscopio SEM y los sistemas FIB, el NanoFlip sobresale en las pruebas, como la compresión de pilares, al sincronizar imágenes SEM con datos de pruebas mecánicas. El NanoFlip realiza mediciones rápidas, esenciales para probar materiales heterogéneos en entornos inertes (por ejemplo, cajas de guantes). El conjunto de opciones disponibles, como el actuador electromagnético InForce50, se combina para proporcionar resultados cuantitativos que conducen a soluciones valiosas para la investigación de materiales.
El NanoFlip tiene un movimiento XYZ de alta precisión para posicionar la muestra a analizar y un mecanismo de inversión para posicionarlo. El software InView viene con una serie de métodos de prueba que cubren una variedad de protocolos de prueba y también permite a los usuarios crear sus propios métodos de prueba. El actuador InForce50 funciona tanto en vacío como en condiciones ambientales. Las imágenes SEM u otras imágenes microscópicas pueden ser grabadas por el software InView y sincronizadas con datos de pruebas mecánicas. La revolucionaria tecnología FIB-to-Test permite que la muestra se incline 90 °, lo que permite una transición suave de la prueba FIB a la prueba de indentacion sin tener que extraer la muestra.