Perfilómetro óptico D-Surface-View D-Surface-View 1. Medición de áreas grandes y pequeñas, desde pocas micras hasta cm 2. Multianálisis en una sola adquisición 3. Nanoescala El D-Surface View está destinado a ayudar a los fabricantes de obleas de hasta 300mm de diámetro a reducir costes y a los fabricantes de chips a mejorar el […]
Mapeo de resistividad y conductividad Serie R50 1. Sonda de cuatro puntos y sistemas de sonda de corrientes parásitas 2. Mapeo de muestra en configuraciones rectangulares, lineales, polares y personalizadas 3. Recorrido X-Y de hasta 200 mm 4. Mida un rango de diez décadas de resistencia de la hoja en películas conductoras y semiconductoras. 5. […]
Medición puntual: alto espesor F70 1. Diagnóstico en línea integrado 2. Software independiente incluido 3. Función de historial sofisticada para guardar, reproducir y trazar resultados Los F70 son instrumentos de medición de espesores de uso general que pueden medir espesores de hasta 15 mm. Las aplicaciones comunes incluyen láminas de vidrio y plástico, lentes y […]
Mapeo automatizado del espesor de película fina F54 1. Muestra de hasta 450 mm de diámetro 2. Sin límite en el número de puntos 3. Fácil de usar 4. Amplio rango de longitud de onda Thin-film thickness of samples up to 450 mm in diameter are mapped quickly and easily with the F54 advanced spectral […]
Mapeo automatizado del espesor de película fina F54- XY-200 1. Muestra de hasta 200 mm de diámetro 2. Etapa XY automatizada 3. Películas finas, gruesas, rugosas y opacas El espesor de película fina en muestras de hasta 200 mm por 200 mm se mapea fácilmente con el sistema de reflectancia espectral avanzado F54-XY-200. La platina […]
Mapeo automatizado del espesor de película fina F60 1. Dedicado a la producción 2. Automatizado 3. Rápido 4. Personalizable La familia F60-t mapea el espesor y el índice de la película al igual que nuestros productos F50, pero también incluye una serie de características diseñadas específicamente para entornos de producción. Estos incluyen la búsqueda automática […]
Espectroscopía infrarroja submicrométrica Espectrospía IR+Raman simultánea y submicrométrica!! mIRage 1. Espectroscopía fototérmica óptica infrarroja (O-PTIR), una tecnología única 2. Resolución espacial submicrométrica IR en modo de reflexión sin contacto independiente de la longitud de onda IR 3. Facilidad de uso (sin preparación de la muestra) 4. Espectros en muestras gruesas en modo sin contacto correlacionados […]
Microscopio Raman Confocal S&I !Microscopios Raman de alta precisión al mejor precio! TriVista CRS 1. Modos dispersivos “additive” y “substractive” intercambiables mediante software. 2. Resolución espectral imbatible 3. mediciones de frecuencia de hasta 5 cm-1 o menos 4. Capacidad para implementar experimentos de longitud de onda de excitación variable 5. Máxima flexibilidad y actualizaciones. […]
Microscopio confocal Raman MonoVista CRS+ 1. Sistema de medición de alta capacidad con manejo simple. 2. Excelente rendimiento de espectroscopía de alta precisión 3. Mediciones de baja frecuencia. 4. Mapeo Raman de alta velocidad 5. Configuración rápida de mapeo Raman para crear mapas Raman con 10,000 espectros en pocos minutos 6. Máxima flexibilidad y mejoras […]
Reflectómetros multisitio / in situ F30 1. Mejora significativamente la productividad 2. Mejor relación calidad-precio 3. Rápido y preciso 4. Fácil de usar 5. Sistema llave en mano La herramienta más poderosa disponible para monitorear la deposición de capas delgadas Mida las tasas de deposición, el espesor de la película, las constantes ópticas (nyk) y […]
Reflectómetros automáticos de cartografía F50 1. Mapeo rápido 2. Muestra de hasta 450 mm de diámetro 3. Muchos modelos de tarjeta 4. Personalizable 5. Automatizado La familia de productos Filmetrics F50 puede mapear el grosor de la película tan rápido como dos puntos por segundo. Una etapa motorizada R-Theta acepta mandriles estándar y personalizados para […]
Medición puntual de espesor de capa El equipo nº1 mundial en medición de espesor de capa! F20 1. Configuración compacta desde 10,000 € 2. 10Å a 10 mm 3. Medida rápida 4. Amplio rango de medición Los F20, F10 y F3 son instrumentos de medición de espesor de película de uso general y se utilizan […]