Microscopio IR AFM
Molecular Vista IR
1. Robusta y fácil imagen química y espectroscopía a nanoescala
2. Mapeo químico a nanoescala de compuestos inorgánicos y biomoléculas en función de sus modos IR de vibración.
3. Alta sensibilidad
4. Funciona con sustratos transparentes y opacos
5. Sin contacto y método de tapping
6. Funciona en espectro visible y medio IR
Molecuar Vista-IR combina AFM con espectroscopía IR (AFM-IR) para proporcionar imágenes espectrales IR con una resolución espacial sin precedentes de menos de 10 nm. Su microscopía de fuerza fotoinducida (PiFM) patentada mide la respuesta óptica de campo cercano de la muestra mediante detección de fuerza mecánica, lo que hace que la técnica sea robusta y fácil de usar. El espectro de PiFM confiable y repetible de la región de 10 nm proporciona el espectro "nano-FTIR" en menos de un segundo.
PiFM Applications
La microscopía de fuerza fotoinducida por infrarrojos (IR PiFM) es una técnica AFM-IR que registra las señales IR de las superficies con la resolución de la microscopía de fuerza atómica. Con una plataforma híbrida de espectroscopía óptica de microscopía de fuerza atómica (AFM), se adquieren espectros IR simultáneos mientras se mapea la topografía. Las longitudes de onda infrarrojas específicas de diferentes entidades químicas resuelven la distribución a escala nanométrica de cada especie química en diversos sistemas de múltiples fases y componentes. La alta resolución espacial de las especies químicas resulta de una sensibilidad superficial extrema, complementando muchas técnicas analíticas de superficie existentes.
Las aplicaciones de PiFM incluyen:
- Polímeros,
- Materiales 1D / 2D,
- Nano Photonics,
- Nano Plasmonics,
- Bio Aplicaciones
- Semiconductor
Mos2-one-page-pifm-signal-vs-layers
Bioapplications collagen-substructure
Ps-pmma-dewetted-pifm
More info on applications
- Polymers : Films, photo-activated, fibers, bock copolymers, solar, interfacial study
- 1D/2D Materials : MoS2, MoSe2, graphene
- Bio Applications : DNA, collagen, protein, skin
Imagen simultánea de nano IR / espectroscopia
y microscopía de fuerza inducida por AFMPhoto
El mapeo espectroscópico infrarrojo a escala nanométrica se puede lograr de forma rápida y rutinaria en una amplia variedad de muestras.Vista-IR utiliza un voladizo AFM oscilante para detectar con mucha sensibilidad las fuerzas inducidas por la polarización entre la punta y la muestra como resultado de la absorción de IR dependiente de la longitud de onda. Se utiliza un rango de IR medio (800-1800cm-1o5-13μm) de láser cuántico en cascada (QCL) para imágenes espectroscópicas. La resolución a escala Nm se logra con una excelente SNR y velocidad a través de detección mecánica (no es necesario recolectar fotones atrapados o responder a los cambios de temperatura). La resolución espacial no varía con las propiedades térmicas o el grosor de la muestra.
Espectroscopía Nano IR
El espectro PiFM de una región a nanoescala (tamaño lateral ~ 10 nm) de poli (2-vinilpiridina) se correlaciona bien con su espectro FTIR en masa
Análisis nanoquímico de orgánicos
Mapeo químico a nanoescala de compuestos orgánicos y biomoléculas en función de sus modos vibratorios IR.
Análisis nanoquímico de productos inorgánicos
Mapeo químico a nanoescala de inorgánicos y biomoléculas en función de sus modos vibratorios IR.
Topografía-Química-Correlaciones Electrónicas
Correlación de propiedades topográficas, químicas (PiFM) y electrónicas (KPFM) de AFM en la misma ubicación.
Mapeo de plasma en materiales 1D / 2D
Mapeo de campo evanescente de polaritón de plasmón en materiales 1D / 2D mediante detección de fuerza de interacción dipolo-dipolo.
Espectros "Nano-FTIR" a través de una interfaz
El espectro de puntos de cualquier nano-región en la imagen se puede adquirir en secuencia rápida para analizar variaciones químicas sutiles.
E-field Mapping
Mapeo de campo E de dispositivos fotónicos y plasmónicos basado en la detección de fuerza de interacción dipolo-dipolo.
VENTAJAS
Especificaciones
Features
Vista-IR comes equipped with a mid-IR laser with the widest tuning range and the best beam stability. The same laser can be used for imaging, extremely fast spectrum acquisition, and even for additional techniques such as scattering scanning near-field microscopy (s-SNOM option must be added). Many automated and user-aid features make the tool robust and as easy as using a standard AFM.
Widely Tunable Mid-IR Source
Continuously tunable over 1,000 cm-1 with 1 cm-1 resolution with enough power to generate point spectrum in about ~0.1 sec.
Automated Setup
PiFM setup is simple – the software detects the two cantilever resonances automatically and sets up the laser so that both AFM topography and PiFM images are acquired concurrently.
Simple Alignment
Cantilever is auto-aligned for AFM detection via cantilever alignment chip. IR beam alignment is as simple as taking a 15-second beam profile image (acquired by scanning the parabolic mirror) and clicking the center of the beam profile.
hyPIR ® – Mapping
hyPIR (hyperspectral PiFM IR) mapping consists of PiFM spectrum in each pixel of (n x n) pixel-image. It is like taking a thousand PiFM images and stacking them on top of each other.
High NA (1.45) Inverted Optics
High NA inverted objective lens on 3D piezo scanner for confocal and tip-enhanced optical measurements on transparent substrates.
Additional Capabilities
Please visit the VistaScope pages to see the additional capabilities that can be added onto Vista-IR (Right: confocal Raman image of strained silicon)
Contáctenos para más información sobre este producto.
¿Quieres una estimación?
¿Información Adicional?
Le responderemos dentro de las 24 horas.