Pointes AFM
Large gamme de pointes AFM
ScienTec distribue une large gamme de pointes SPM pour la plupart des applications AFM à un prix abordable. Nous tirons parti de notre expérience en AFM pour fournir des pointes de la plus haute qualité en utilisant les dernières technologies du marché.
- Contact
- Non Contact
- Conductives
- EFM/MFM
- Diamand
- Haute résolution
- Spécifiques
Probes models |
Description |
Constant (N/m) |
Frequency (khz) |
Tip ROC* |
| Oscillating Mode | ||||
ACT |
R, A,* | 37 | 300 | 6nm (<10nm) |
ACL |
R, A* | 58 | 190 | 6nm (<10nm) |
ACST |
R, A* | 7,8 | 150 | 6nm (<10nm) |
FORT |
R, A* | 1,6 | 61 | 6nm (<10nm) |
ACCESS-NC |
78 | 300 | <10nm | |
ACCESS-FM |
2,7 | 60 | <10nm | |
| Contact Mode | ||||
ACCESS-C |
A* | 0,3 | 16 | <10nm |
Hydra-All |
/ | 0,292, 0.045, 0.405, 0,081 | 66,17,67 | <10nm |
| Conductive / Resiscope / EFM / KFM / PFM Modes | ||||
Doped |
||||
Diamond |
A* | 37, 1.6, 0.29 | 300, 61, 15 | 100-300nm |
ANSCM |
PtIr* | 37, 2.7, 0.29 | 300, 60, 12 | 30nm |
| High resolution probes diamond Probes Conductive / Resiscope / EFM / KFM / PFM Modes |
||||
CS-A-E2.8 |
R | 1.2, 2.8, 4.5 | 50, 65, 100 | < 10 nm |
CS-A-E40 |
R | 20, 40, 60 | 140, 180, 220 | < 10 nm |
CS-FM-LC |
R | 4, 8, 16 | 50, 100, 150 | 20 ± 10 nm |
CS-NC-LC |
R | 50, 100, 200 | 300, 450, 600 | 20 ± 10 nm |
| Magnetic Force Microscopy Mode | ||||
MAGT |
Cr-Co* | 2,7 | 61 | 40nm |
MAGT-LM |
Cr-Co* | 2,7 | 61 | 25nm |
MAGT-HM |
Cr-Co* | 2,7 | 61 | 75nm |
| Specifics probes | ||||
| Gold coating, HART probes, Colloidal probes, SHOCON & SICON, PTU... | ||||
* Tip ROC : Radius Of Curvature - Shape : V - for V shape ; R - for Rectangular * Reflex Coating : G fo Gold ; A for Aluminium - Tip & Reflex Coating : PtIr for Platine Iridium . Cr-Co for Chrome Cobalt
Quelques informations utiles
Mode oscillant
- Applications: tous types de matériaux (polymères, métaux, céramique, semi-conducteurs ...).
- ACT (dur): les sondes ACT sont des sondes en silicium à constante de ressort élevée pour les mesures de taraudage dur Obliger. Ces sondes ont une fréquence élevée qui permet des vitesses de balayage plus rapides.
- ACL (dur): les sondes ACL sont des sondes en silicium à constante de ressort élevée pour les mesures de taraudage dur Obliger. Ces sondes ont une fréquence moyenne qui permet différentes capacités en imagerie de phase.
- ACST (moyen): les sondes ACST sont des sondes en silicium à constante de ressort moyenne pour le taraudage moyen mesures (force moyenne). Ces sondes ont une fréquence moyenne qui permet un balayage plus rapide vitesses avec force moyenne.
- FORT (soft): les sondes FORT sont des sondes en silicium à faible constante de ressort pour les mesures de taraudage doux (force faible). Ces sondes ont une basse fréquence qui permet des échantillons souples et des mesures de liquide.
- Série ACCESS: les sondes ACCESS-NC / FM sont des sondes en silicium pointues qui permettent une vision optique directe de la Pointe AFM et conçue pour les applications nécessitant de voir la pointe au contact de la surface.
- ACCESS-NC a les mêmes spécifications que ACT et ACCESS-FM a les mêmes spécifications que FORT.
Mode de contact
- Applications: tous types de matériaux dans l'air ou dans un liquide (sauf échantillon mou dans l'air).
- ACCESS-C: les sondes ACCESS-C sont des sondes en silicium pointues permettant une vue optique directe de la pointe de l'AFM et conçu pour les applications nécessitant de voir la pointe au contact de la surface.
- Hydra-All: 4 cantilevers triangulaires en nitrure de silicium sur une puce avec différentes constantes de ressort qui permettent forces différentes sur la surface.
Modes Conducteur / Resiscope / EFM / KFM / PFM
- Applications: mesures électriques.
- Diamant dopé: Le côté extrémité de ces sondes est recouvert de diamant polycristallin. Le film de diamant est dopé in situ au bore pour le rendre hautement conducteur. 1,6 constante de ressort est compatible pour EFM et KFM modes.
- ANSCM: Les sondes ANSCM sont des sondes en silicium avec une fine couche de revêtement Pt / Ir à la fois réflexe et extrémités des sondes. Les sondes ANSCM à constante de ressort de 2,7 sont idéales pour EFM et KFM applications et sont disponibles pour une utilisation en mode CAFM.
Sondes diamant à haute résolution (modes Conducteur / Resiscope / EFM / KFM / PFM)
- Applications: mesures électriques.
Des sondes diamantées hautement conductrices, formées selon un processus breveté unique, garantissent la meilleure usure possible
et performance électrique. Ces pointes sont plus tranchantes et durent plus longtemps que toute autre sonde AFM électrique.
Mode de microscopie à force magnétique
- Applications: Mesures de domaines magnétiques.
Les sondes de la série MAGT sont recouvertes de Cr / Co et ont une coercitivité et un moment différents pour correspondre aux différentes MFM
exigences.
- MAGT: MAGT ont un revêtement de matériau magnétique à coercitivité et moment moyen.
- MAGT-LM: Les sondes MAGT-LM ont une coercitivité moyenne et un revêtement de matériau magnétique à faible moment.
- MAGT-HM: Les sondes MAGT-HM ont une coercitivité moyenne et un revêtement de matériau magnétique à moment élevé.
Mode de modulation force
- Applications: Échantillon souple et polymères.
- FORT (soft): les sondes FORT sont des sondes en silicium à faible constante de ressort pour la modulation de la force des mesures.
Sondes spéciales
- HART: Les sondes HART ont été conçues pour la métrologie de la profondeur des tranchées: chaque extrémité de sonde contient une pointe d'une longueur spécifique qui est réglée avec précision pour mesurer la profondeur en mode taraudage / sans contact.
- Super Sharp: Sondes en silicium Super-Sharp conçues pour le mode sans contact, taraudage, contact intermittent, et / ou fermer les applications de contact. Nos sondes Super Sharp produisent des images de résolution améliorée.
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