Nanoindenteur à l’échelle nanométrique
G200
1. Précis, flexible et convivial
2. Test mécanique à l'echelle nanométrique
3. Plateforme évolutive et extensible
4. Automatisé
Le système Nanoindenteur G200 est un instrument précis, flexible et convivial pour les tests mécaniques à l'échelle nanométrique. Il s'agit d'une plate-forme entièrement évolutive, extensible et éprouvée en production, dotée d'une capacité automatisée de mesure de la dureté à haut débit pour les laboratoires de contrôle qualité et d'assurance. Il peut être utilisé pour mesurer le module de Young, la dureté, la ténacité, la résistance à l’usure / aux rayures, le coefficient de frottement, la réponse au fluage à haute température et les propriétés viscoélastiques de divers types de matériaux, des gels ultra-mous aux revêtements durs.
Applications de la nanoindentation
- Mesure de dureté et de module à grande vitesse
- Mesure d'adhésion interfaciale
- Robustesse Fracture
- Propriétés viscoélastiques
- Microscopie à sonde à balayage (imagerie 3D)
- Résistance à l'usure et résistance aux rayures
- Essais mécaniques à haute température
- Industries
- Universités, laboratoires de recherche et instituts
- Fabrication de semi-conducteurs
- Électronique
- Industrie du pneu
- Industrie du revêtement et de la peinture
- Industrie biomédicale
- Équipement médical
- Universités, laboratoires de recherche et instituts
Plus d'info sur les applications
- Adhésion
- Dureté
- Module d'young
- Scratch
La Nanoindentation à l’échelle nanométrique
Le système Nano Indenter ® G200 est un instrument précis, flexible et convivial pour les tests mécaniques à l'échelle nanométrique. Le G200 mesure le module et la dureté de Young, y compris la mesure de la déformation sur six ordres de grandeur, du nanomètre au millimètre. Le système peut également mesurer le module complexe de polymères, de gels et de tissus biologiques ainsi que la réponse au fluage (sensibilité à la vitesse de déformation) de films métalliques minces. Les options modulaires peuvent s'adapter à diverses applications: tests de fréquence, de rayures et d'usure quantitatifs, imagerie intégrée à base de sondes, tests de nanoindentation à haute température, capacité de charge étendue jusqu'à 10 N et protocoles de test personnalisés.
AVANTAGES
- Précis, flexible et convivial
- Test mécanique à l'echelle nanométrique
- Plateforme évolutive et extensible
- Automatisé
- Actionneur électromagnétique pour atteindre la plage dynamique élevée en force et en déplacement
- Options modulaires pour les rayures d'imagerie, les mesures de nanoindentation à haute température et les tests dynamiques
- Interface intuitive pour une configuration rapide des tests; les paramètres de test peuvent être modifiés en quelques clics de souris
- Contrôle expérimental en temps réel, développement de protocoles de test faciles et compensation précise de la dérive thermique
- Option de test express à grande vitesse primée pour mesurer la dureté et le module
- Fonctions d'imagerie polyvalentes, numérisation de sondage et développement de méthodes de test rationalisées pour des résultats rapides
- Détermination simple de la fonction du pénétrateur et de la rigidité du cadre de charge
Options
Tête XP
Le système Nano Indenter G200 est alimenté par un transducteur électromagnétique pour assurer des mesures précises. La conception unique du transducteur évite les artefacts de déplacement latéral. La tête d'indentation XP standard est équipée d'une capacité de chargement de 500 mN, offrant une résolution de déplacement <0,01 nm (10 h) et une profondeur d'indentation maximale de 500 μm.
Tête du module de contact dynamique II (DCM II)
La tête DCM II étend la capacité de chargement maximale à 30 mN et offre une plage complète de débattement de 70 µm avec une résolution de déplacement de 0,2pm. L'échange d'embouts est conçu pour permettre le retrait rapide et l'installation facile d'une variété d'embouts spécifiques à l'application. Avec l'option DCM II, les chercheurs peuvent étudier non seulement les premiers nanomètres d'indentation dans la surface d'un matériau, mais également la mécanique avant contact.
Express Test
L'option Express Test est un moyen novateur et rapide de réaliser des tests nanomécaniques de haute précision. Bénéficiaire du prix R & D 100 Award, l'option de test express effectue une indentation complète à la seconde, ce qui signifie que 100 indentations peuvent être effectuées sur 100 sites différents en 100 secondes. L'option Express Test est compatible avec toutes les têtes d'indentation Nano Indenter G200 DCM II et XP et avec toutes les étapes. Les méthodes de test Express polyvalentes et faciles à utiliser sont idéales pour les applications impliquant des métaux, des verres, des céramiques, des polymères structuraux, des films minces et des matériaux à faible coefficient k. Une méthode de test Express pour les mesures en couche mince incorpore un modèle en couche mince qui prend automatiquement en compte l’influence des substrats sur la mesure, permettant ainsi une mesure rapide et précise du module de Young.
Pointe et platine chauffées au laser
Compatible avec la tête d'indentation XP standard, l'option pointe et plateau chauffés au laser pour le système Nano Indenter G200 utilise un laser à diode haute puissance pour chauffer la pointe et l'échantillon à la même température. Les avantages comprennent la possibilité de mesurer diverses propriétés nanomécaniques à des températures contrôlées avec précision ou dans des conditions de température très dynamiques. Pour garantir des données précises, le système minimise la dérive associée au chauffage en utilisant une pointe chauffante et en utilisant un laser comme source de chauffage (chauffage non résistif). Le G200 offre également aux utilisateurs la possibilité de purger des échantillons avec différents gaz afin d'éviter toute contamination et oxydation.
Mesure de rigidité continue (CSM)
La technique de mesure de la rigidité continue (CSM), compatible avec les têtes d'indentation XP et DCM II, répond aux exigences de l'application qui doivent prendre en compte les effets dynamiques, tels que la vitesse de déformation et la fréquence. Le kit de méthode polymère ProbeDMA ™ et le pack de méthode pour film mince AccuFilm ™ sont inclus avec l'option CSM. Le ProbeDMA ™ Polymer Method Pack offre un moyen de séparer les composants en phase et en déphasage de l'historique de déplacement de charge. La séparation de phase permet une détermination précise de l'emplacement du contact initial avec la surface et une mesure continue de la rigidité du contact en fonction de la profondeur ou de la fréquence, éliminant ainsi le besoin de cycles de déchargement. Le pack de méthodes AccuFilm ™ à couche mince mesure les propriétés des matériaux indépendamment du substrat.
Mesure de force latérale (LFM)
L'option de mesure de la force latérale (LFM) fournit une analyse quantitative en trois dimensions pour le test de rayure, le test d'usure et le palpage MEMS. Cette option permet de mesurer la force de cisaillement dans les directions X et Y. Les études tribologiques bénéficient grandement de l'option LFM, qui permet de déterminer la charge critique et le coefficient de frottement sur la longueur de la rayure.
Charge élevée
Conçue pour être utilisée avec la tête d'indentation XP standard, l'option High Load étend les capacités de charge du système Nano Indenter G200 jusqu'à 10N, permettant ainsi une caractérisation mécanique complète de la céramique, des métaux en vrac et des composites. L’option High Load a été conçue pour éviter de sacrifier les résolutions de charge et de déplacement de l’instrument à faibles forces, et pour s’engager de manière transparente au point du protocole de test lorsqu’une force supplémentaire est requise.
NanoVision
L'option NanoVision comprend une étape de nanolocalisation en boucle fermée pour une imagerie 3D haute résolution et un ciblage précis. NanoVision permet aux utilisateurs de cibler les sites de test d'indentation avec une précision au nanomètre et de caractériser les phases individuelles de matériaux complexes. Les utilisateurs de NanoVision peuvent également examiner les empreintes résiduelles pour quantifier les phénomènes de réponse du matériau tels que l’empilement, le volume déformé et la ténacité.
Survey Scanning
L'option Survey Scanning utilise le mouvement X / Y reproductible et précis du système Nano Indenter G200 pour fournir une taille de numérisation maximale de 500 μm sur 500 μm. L'étape NanoVision et les options de balayage d'enquête peuvent être utilisées ensemble pour un ciblage géographique précis pour les tests de nanoindentation, ce qui est particulièrement utile pour déterminer la ténacité de l'échantillon.
NanoSuite ®
Tous les systèmes Nano Indenter G200 sont alimentés par le logiciel standard NanoSuite Professional. La version NanoSuite Professional permet aux utilisateurs d’avoir accès à des méthodes de test prédéfinies, notamment des méthodes conformes à la norme ISO 14577 et des méthodes permettant de supprimer les artefacts liés au substrat des échantillons contenant des matériaux en couche mince. La version de NanoSuite Explorer permet aux chercheurs d’écrire leurs propres méthodes NanoSuite à l’aide d’un protocole simple. Avec le mode simulation, disponible avec les logiciels NanoSuite Professional et NanoSuite Explorer, les utilisateurs peuvent écrire des méthodes de test, traiter et analyser des données hors ligne.
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